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德國belec “貝萊克” 是一家專門生產光發射直讀光譜儀的公司，采用極高穩定性、準確性及重復性的 “光電倍增管” 檢測系統，光學系統為帕邢-龍格裝置雙光譜室，羅蘭圓直徑300-500mm，可選用波長由120-800nm，光柵為3600線/毫米，火花探頭采用低損耗烏電極，在同一系統上至多可升級到11個基體及108個通道，可檢測的金屬基體包括鋼鐵、鑄鐵、工具鋼、銅、鋁、鎳、鈦、鈷等。

按照特殊的多基體應用，可提供CCD感光系統的高性價比光譜儀。

n 體積小、重量輕，僅17公斤

n 可選3種不同火花探頭

n 可外接獨特的火花測量臺

n 多分析6個基體共36個元素信道，包括C、P、S等元素

n 分析時間僅15秒左右

n 觸摸式顯示屏，便于現場使用

n 全天候設計帶恒溫系統，抗干擾能力強

n 低損耗及免維護的火花鎢電極，日常維護及備件成本極低

n 采用佳光柵，精度為3600線/mm

n 100% 采用光電倍增管系統，壽命長，穩定性高

在多基體的應用需求，可提供帶CCD光感系統的Belec IN-Spect Port型便攜式光譜儀，可分析C、P、S、N等元素

Belec Lab 3000s 經濟型臺式光譜儀

n 極高的性價比，占地空間小

n 特別適合于少基體要求的客戶

n 可分析多3個基體共24個元素信道，包括C、P、S、N等元素

n 分析時間僅15秒左右

n 火花臺內氬氣流的防污染獨特設計

n 低損耗及免維護的火花鎢電極，日常維護及備件成本極低

n 可測量從直徑0.5毫米的線材、管材等

n 臺式光譜儀可接真空系統（可選）

n 采用佳光柵，精度為3600線/mm

n 100% 采用光電倍增管系統，壽命長，穩定性高

在多基體的應用需求，可提供帶CCD光感系統的Belec IN-Spect型臺式光譜儀，可分析C、P、S、N等元素

Belec Vario Lab 固定式直讀光譜儀

n 同一設備可安裝3個光譜室

n 可分析*多11個基體共108個元素信道，包括C、P、S、N等元素

n 可同時選擇火花臺及3種不同的火花探頭--可在非破壞條件下分析大型工件

n 分析時間僅15秒左右

n 火花臺內氬氣流的防污染獨特設計

n 低損耗及免維護的火花鎢電極，日常維護及備件成本極低

n 可測量從小至直徑0.5毫米的線材到不計尺寸大型工件

n 可選擇帶氣體凈化器的氬氣光譜室系統或真空光譜室系統

n 采用佳光柵，精度為3600線/mm

n 100% 采用光電倍增管系統，壽命長，穩定性高

光譜儀軟件
   

Belec Win 21軟件（可選多國語言，包括中文）

n 可選多國語言，包括中文、英文、日文、韓文、德文、西班牙等十多種語言…

n 可以顯示分析結果和多次測量的平均值、相對標準偏差和絕對標準偏差等，以及與預先輸入的材料數據庫進行比較對分析結果作出評價。

n 在顯示分析結果的同時，可以自動顯示材料牌號。

n Belec光譜儀操作十分簡單，特別適合于缺乏光譜分析經驗的人員使用。

為滿足中國用戶的需求，Win21軟件已可選擇中文操作模式，而操作接口的顯示排列方式更可以按照用戶的要求重整，以達到方便用戶使用的*終目的。

Belec手提激發槍

氬氣特殊探頭 “Argon Special Probe” 
 

可以同時分析P和S，與C元素不同，因這兩個元素發射很短的波長，不能用光纖光束傳送，需在探頭內安裝一個細小的光譜室來解決這問題，探頭重量僅1kg，使用非常方便。
 

氬氣標準探頭 “Argon Standard Probe” 
 

可進行高精度分析大部份元素，包括C碳，使用專用的光學方法可以分析低至0.003%含量C元素，其分析精度達到了專用定碳儀的分析精度。

空氣探頭 “Air Probe” 
 

“混料分選”的常規應用，一次分析時間小于2秒。在一次分析后顯示出近似的分析結果和材料牌號，也可發出報警信號。

“5mm 孔直徑” 
  

針對工件面積細小的平面，能提供特殊的小直徑適配器，直徑僅5mm，也可與標準的11mm進行快速替換。

適配器

適合于各種形狀零件和試樣的分析，如管材、棒材、直徑小至0.5mm的金屬絲、螺絲、金屬小珠等…